主讲人：孙凤斌 博士 美国加州硅谷日立全球信息储存技术(HGST)、可靠性工程技术总监
时 间：2014年10月31日（周五）下午13:30
地 点：机械工程学院243会议室
主讲人简介：孙凤斌博士1984年毕业于中国南京东南大学机械系、电子设备结构设计专业，获学士学位；1987年获得上海大学机械工程系、可靠性工程硕士；199年获得美国亚利桑那大学航天与机械工程系、可靠性工程博士学位。
现任位于美国加州硅谷的日立全球信息储存技术(HGST)、可靠性工程技术总监，美国可靠性工程师协会硅谷分会的秘书长，ISSAT 国际可靠性会议的程序委员会主席(Program Chair)，可靠性进展(AiR)杂志副主编，中国苏州大学城市轨道交通学院客座教授，清华大学高速铁路技术研究中心信息服务研究所顾问。曾在中国上海大学任助理教授、在美国亚利桑那大学任客座讲师、在美国硅谷的昆腾（Quantum）公司、迈克斯道（Maxtor）公司、以及西部电子公司 (Western Digital) 任可靠性工程资深工程师、首席工程师、团队技术领导等职位。曾为中国原机械工业部、机电部、化工部等举办过多次可靠性工程普及培训课程，并为华为等国内知名企业、清华大学、成都电子科技大学、上海大学、上海理工大学、苏州大学等提供过可靠性培训、咨询、和讲座。
他出版了近40篇学术论文，他的兴趣和专长包括质量和可靠性教育和培训、企业质量文化和社会大质量, 可靠性模型和风险评价、产品质量和可靠性指标确定、可靠性设计、可靠性试验大纲、加速寿命试验的计划和定量分析、参数可靠性试验及定量、老练和环境应力筛选的定量和优化、“6-西格马”质量改善、可靠性维修性评价、预防性维修和产品备件提供策略的制定等。
